国产精品无码一区二区三区,亚洲精品卡2卡3卡4卡乱码,欧美日韩成人,久久精品国产av成人

技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

當(dāng)前位置:首頁(yè)技術(shù)文章

  • 202411-20
    應(yīng)用分享 | AES俄歇電子能譜專輯之應(yīng)用案例(二)

    上篇介紹了俄歇電子能譜(AES)的定性分析、定量分析及化學(xué)態(tài)分析功能,本篇我們將繼續(xù)分享更多AES高級(jí)功能,其中包括表面形貌觀察、深度分析及顯微分析。表面形貌觀察AES作為一種先進(jìn)的電子束探針表征技術(shù),在納米級(jí)乃至更高精度的空間分辨要求上展現(xiàn)出了強(qiáng)大的優(yōu)勢(shì),因此非常適用于納米尺度材料的表征。與掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)等依賴電子束探針的技術(shù)相似,AES在電子束聚焦能力上表現(xiàn)出色,尤其是場(chǎng)發(fā)射電子束技術(shù)的融入,極大地提升了其空間分辨能力。當(dāng)前PHI710...

  • 202411-20
    順磁共振譜儀的工作原理和優(yōu)勢(shì)

    順磁共振譜儀(EPR)是一種基于電子自旋共振現(xiàn)象,用于研究含有未成對(duì)電子的順磁物質(zhì)的儀器。其工作原理和優(yōu)勢(shì)如下:工作原理1.建立磁場(chǎng):首先在儀器中建立一個(gè)強(qiáng)磁場(chǎng),通常使用超導(dǎo)磁體來(lái)產(chǎn)生很高的磁場(chǎng)。2.激發(fā)電磁輻射:使用微波源產(chǎn)生特定頻率的微波輻射,這個(gè)頻率通常是與順磁物質(zhì)的共振頻率相匹配的。微波輻射被引導(dǎo)到樣品中,并與樣品中的未成對(duì)電子進(jìn)行相互作用。3.收集信號(hào):通過(guò)所謂的共振回路(resonator)收集樣品中電子的共振信號(hào)。共振回路是通過(guò)感應(yīng)線圈和諧振電路組成的。4.分析...

  • 202411-15
    半導(dǎo)體制造:晶圓片在線面掃檢測(cè)儀的作用與價(jià)值

    在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,質(zhì)量控制是確保芯片性能和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著技術(shù)的發(fā)展,晶圓片在線面掃檢測(cè)儀成為了這一過(guò)程中不可或缺的工具。晶圓片在線面掃檢測(cè)儀是一種高精度的檢測(cè)系統(tǒng),專門(mén)用于監(jiān)測(cè)晶圓片表面的微小缺陷。這些缺陷可能包括顆粒污染、劃痕或圖案不完整等,它們都可能影響最終產(chǎn)品的性能。通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),該設(shè)備能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并反饋給生產(chǎn)線,從而避免不良品的產(chǎn)生。該檢測(cè)儀基于光學(xué)掃描技術(shù)。一束激光或強(qiáng)光被引導(dǎo)至晶圓片表面,并通過(guò)高分辨率的攝像頭捕捉反射回來(lái)的光線。如果晶圓片表面存在任何...

  • 202411-13
    應(yīng)用分享 | 氬離子設(shè)備 (XPS、PHI710、TOF-SIMS)

    氬離子設(shè)備對(duì)于表面分析,樣品表面極易被污染。為了清潔被污染的固體表面,在能譜分析中,常常利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束對(duì)樣品表面進(jìn)行濺射剝離,以清潔表面。利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束定量地剝離一定厚度的表面層,然后再分析表面成分,這樣就可以獲得元素成分沿深度方向的分布圖。同時(shí),離子設(shè)備也兼具中和樣品表面荷電的作用。一、氬離子設(shè)備原理圖▲圖1氬離子設(shè)備原理圖二、氬離子設(shè)備實(shí)圖▲圖2氬離子設(shè)備圖三、氬離子設(shè)備主要作用清潔(樣品表面被污染)清潔被污染的樣品表面,利用離子設(shè)備發(fā)出的離子束對(duì)樣品...

  • 202411-5
    揭秘物質(zhì)內(nèi)部結(jié)構(gòu),X射線三維顯微鏡的跨領(lǐng)域影響力

    在現(xiàn)代科學(xué)研究和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域,高精度成像技術(shù)的重要性日益凸顯。X射線三維顯微鏡作為一種先進(jìn)的無(wú)損檢測(cè)工具,以其獨(dú)特的穿透能力和高分辨率成像特性,成為了材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)以及工業(yè)質(zhì)量控制等多個(gè)領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)。X射線三維顯微鏡基于X射線與物質(zhì)相互作用時(shí)的吸收差異。當(dāng)X射線穿過(guò)物體時(shí),不同密度和組成的材料會(huì)對(duì)X射線產(chǎn)生不同程度的衰減,這種衰減信息被探測(cè)器捕捉并轉(zhuǎn)化為電信號(hào),最終通過(guò)計(jì)算機(jī)處理生成三維圖像。與傳統(tǒng)的二維X射線成像相比,三維顯微鏡能夠提供更為豐富的空間結(jié)構(gòu)信息,使得研究...

  • 202410-30
    XRM應(yīng)用分享 | 高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用

    隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,高分辨顯微CT(ComputedTomography)檢測(cè)技術(shù)作為一種非破壞性的三維成像技術(shù),在生命科學(xué)領(lǐng)域展現(xiàn)出了巨大的應(yīng)用潛力和價(jià)值。其不僅能夠?qū)崿F(xiàn)生物樣本的精確成像,還能提供豐富的生物學(xué)信息,為生命科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。本文旨在探討高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)在生命科學(xué)領(lǐng)域的前沿應(yīng)用,并分析其在推動(dòng)科學(xué)進(jìn)步方面的作用。一、概述高分辨顯微CT檢測(cè)技術(shù)是一種基于X射線的高精度三維成像技術(shù),它結(jié)合了CT掃描與顯微鏡技術(shù)的優(yōu)點(diǎn),能夠在不破壞樣本的前提...

  • 202410-30
    XRD應(yīng)用分享 | 微焦斑高分辨XRD在電子器件領(lǐng)域的應(yīng)用——以PZT電容器為例

    微電子器件的功能在很大程度上取決于其晶體結(jié)構(gòu)。高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一種無(wú)損分析技術(shù),能夠以亞納米級(jí)的精度研究晶體結(jié)構(gòu)-即使是在非環(huán)境或工作狀態(tài)下。使用實(shí)驗(yàn)室X射線衍射儀通過(guò)HRXRD研究這些微米級(jí)尺寸的器件極其具有挑戰(zhàn)性,因?yàn)樾枰皇∮谒P(guān)注結(jié)構(gòu)的X射線束。鋯鈦酸鉛(PZT)電容器在提高各種電子設(shè)備和系統(tǒng)的功能及性能方面起著至關(guān)重要的作用。由于其能夠在電能和機(jī)械能之間轉(zhuǎn)換,它們被用于需要高精度、控制和高效能量轉(zhuǎn)換的應(yīng)用中。典型的例子包括微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)器...

  • 202410-30
    應(yīng)用分享|少子壽命測(cè)試儀(MDP)針對(duì)碳化硅器件性能優(yōu)化的關(guān)鍵作用

    1應(yīng)用背景在微電子半導(dǎo)體行業(yè)日新月異的現(xiàn)狀,材料質(zhì)量的提升與器件性能的優(yōu)化成為推動(dòng)技術(shù)進(jìn)步的關(guān)鍵因素。碳化硅(SiC)作為一種新興的高性能半導(dǎo)體材料,以其優(yōu)異的導(dǎo)熱性、高擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度及耐高溫特性,在電力電子、新能源汽車(chē)、航天航空等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。然而,碳化硅器件的性能優(yōu)化并非易事,其涉及到材料質(zhì)量、加工工藝、器件設(shè)計(jì)等多個(gè)層面的精細(xì)控制。在這個(gè)過(guò)程中,少數(shù)載流子壽命(少子壽命)作為評(píng)價(jià)半導(dǎo)體材料質(zhì)量的重要參數(shù)之一,其精確測(cè)量與深度分析顯得尤為重要。2儀器介紹德國(guó)弗萊...

共 296 條記錄,當(dāng)前 3 / 37 頁(yè)  首頁(yè)  上一頁(yè)  下一頁(yè)  末頁(yè)  跳轉(zhuǎn)到第頁(yè) 

掃一掃,關(guān)注公眾號(hào)

服務(wù)電話:

021-34685181 上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號(hào)樓602室 wei.zhu@shuyunsh.com
Copyright © 2025束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司 All Rights Reserved  備案號(hào):滬ICP備17028678號(hào)-2